干法激光粒度仪用于测量须在气体中分散的粉体材料的粒度分布。在胜任多种样品的干法检测的同时将仪器的维护需求有效降低，测试自动化程度高、动态范围大、重现性好、分辨能力优。其智能化测控分析软件、专业化的可定义测试报告模板，附带简洁易操作的报告浏览、比对及多种数据导出功能，使得粒度测试分析从此变得轻松。
干法激光粒度仪技术指标：
1.测试原理：全量程米氏散射理论
2.测试范围：0.1～μm（干法）
3.进样方式：干法自动进样
4.重现性：1%（标样D50偏差）
5.对中方式：智能自动对中，对中精度0.2μm
6.测试时间：1～2分钟
7.检测器：通道数87个，由前向、侧向、大角、多后向光电探测器组成
8.光源：进口氦-氖激光，功率：2.0mW，波长：0.μm
9.ADC模数转换：18bit；采样电路扫描频率：10kHz
10.工作环境：5～35℃（温度），＜85%（相对湿度）
11.输出数据：粒度分布表、粒度分布曲线、平均粒径、中位径、比表面积。
12.电源要求：~VAC50Hz；功率：60W（主机），0W（分散系统）
13.外观尺寸（L×W×H）：
主机外形尺寸：××mm主机包装外形尺寸：××mm
干法进样器干法激光粒度仪技术特点：
1、可靠的光学平台
LS-E系统采用整体式外罩、铝合金底座和模块化结构设计，防尘防水防外界杂散光效果良好，维护需求极少且简单易行。采用调试工装一次性地调节定位辅助探测器和主探测器相互位置，定位更准，有利于获得更加准确的大角度光能数据，从而有利于仪器小颗粒测试性能的提升。
2、优化的单镜头光路结构
采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，包括后向散射在内的所有角度的散射光均能被探测器定位接收，一致性好；且单镜头光路中的折射、反射面减到尽可能少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至低水平，提高了仪器测量时的信噪比。
3、高性能进口He-Ne气体激光光源
系统采用进口He-Ne气体激光光源，光学质量更好，更加稳定可靠，预热时间短，使用寿命更长，进而适合于要求更为苛刻的应用，相比于其他类型的激光器具有单色性好、相干性高、发散角小、稳定性强等优点，确保了仪器良好的稳定性和优异的分辨力。
4、新空间滤波器设计及一体化激光发射器技术
LS-E光源组件采用一体化激光发射器设计及进口新式永磁体空间滤波器，减少了衍射环的影响。结合激光输出功率稳定性检测和滤波平滑处理技术，散射光能数据更准确，进一步提高了系统的测试性能，尤其是宽分布的测试性能。
5、合理分布、高感光度的光电探测器组合
LS-E激光粒度分析仪对光电探测器布局进行了深度优化整合，由前向、侧向、大角度、多后向散射光探测器组成三维立体检测系统，所有探测器都准确地布置于傅立叶聚焦面上，结合低噪音大尺寸的大角度、后向探测器的应用，确保了仪器具有良好的动态范围、优异的分辨力和灵敏度，有效保证小颗粒散射光能信息的全面准确获取，小颗粒含量测试更准确。
6、长焦距的傅里叶透镜
LS-E激光粒度分析仪选用mm长焦距的傅立叶透镜，增加了测量窗口到光电探测器平面的距离，从而使更小散射角度的散射光信号之间能有足够空间差异被光电探测器准确探测到，仪器对大颗粒的测试轻而易举，测量上限达μm。
7、智能自动对中
智能软件控制自动对中系统保证了准确的光学对中和多次测量的重现性。自动对中机构，精度达0.2um，速度更快，既可作为自动测量的一部分，亦可在屏幕上单击鼠标来完成。结合智能判断对中软件功能，避免了传统粒度测量中因对中不良导致的结果偏差，并能延长对中机构寿命。
8、先进的数据采集及处理技术
采用优化的同步8通道18位ADC模数转换采样技术和超低泄露电流采样保持开关，满量程精度达到0.15%，电背景更低。结合电背景补偿功能，有利于获得更加准确的光能数据，提高了光能获取的动态范围，测试分辨能力也得到相应提高。
9、高性能、简单易用的干法测试系统
LS-E干法进样系统由干法进样器、全封闭进样窗口、静音泵空压机、油水过滤器和吸尘器等部件构成。样品池具有三重调节设计，进料速度由先进的压电陶瓷晶体准确控制，使测试遮光率易于控制并节省样品量。内置分散压和负压传感器，实时监控测样状态，并具有错误警示功能。干法窗口采用密闭管道式设计，结合窗口负压保护设计与大功率吸尘器粉尘回收装置，大限度回收样品，使主机不受粉尘影响。
干法激光粒度仪以上多种特性共同保障了LS-E干法测试对多种不同特性样品的适应性及测试结果良好的重现性和真实性。