激光粒度分析仪Topsizer激光粒度

激光粒度分析仪具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点,是广受客户赞誉的国产高性能干湿法激光粒度仪。

激光粒度分析仪

一、用途:

激光粒度分析仪既可测量须在液体中分散的样品,也可测量须在气体中分散的粉体材料。

二、工作原理:利用颗粒对光的散射现象,根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化,使欧美克激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。

三、先进的光学系统双光源技术

Topsizer激光粒度分析仪采用红蓝双光源设计,红光主光源为进口氦-氖激光器,波长0.μm,并有蓝光辅助半导体光源,波长0.μm,弥补了常规设计散射光角度的盲区,极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。

稳定的激光光源进口主光源预热时间短,输出单模偏振激光偏振比达:1以上,光束中TEM00模占比达95%以上,且激光功率始终稳定,功率波动小于0.5%,使得仪器的背景很低而且稳定,大大提高了系统对有效信号的分辨能力。

直线光路设计Topsizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计,无多余反射光学部件造成的杂散光,亦无粉尘污染干扰,同时采用高精度全铝合金光学平台,确保光路稳固可靠。

后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计,采用透镜后傅立叶变换结构,突破了傅立叶透镜的光瞳制约,使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制;而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减少,可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平,提高了仪器测量时的信噪比。

长焦距的傅里叶透镜Topsizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜,这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离(也就是有效焦距),从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号,大大增强了仪器对大颗粒的测试能力,仪器的测量上限达μm。

合理分布、高感光度的进口光电探测器Topsizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器,确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个,由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统,探测角范围达到0.-度。结合蓝光散射信号,实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收,有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。

智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了准确的光学对中。智能判断自动对中既可作为自动测量的一部分,亦可手动在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重现性。

四、先进的高性能分散进样系统湿法进样系统:标配SCF-A循环进样器,采用专利的灯笼头下压式水流循环回路设计,配备大功率准确自动控制搅拌电机,可达3转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生,并具有效率高的分散、清洗、排干能力。内置功率50W的效率高的管路超声装置,超声强度无级连续可调。标配毫升样品池,可根据客户需求更换容量。可选SCF-B全自动循环进样器,除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用L不锈钢,配置效率50W底部超声及速度可达转/分钟的精密搅拌装置,均无极连续可调。根据需要可选更多不同特性(例如微量、微量循环、耐腐蚀等)的湿法进样器。干法进样系统:标配DPF-自动干法进样器,分散气压0.05-0.6MPa无级可调,三重可调下料机构设计,配备压电陶瓷精密振动控制单元及刚玉瓷分散管,可适应于各种样品及分散强度的测试要求。内置分散压传感器和负压传感器,测试条件可追溯。测试窗口全密闭,具有负压保护装置,可有效防止窗口和主机的污染。

五、功能强大的分析软件软件设计模块化,仪器状态可视化,操作界面人性化,流程界面清晰明了,拥有导航功能仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统;每次测量前能自动测量电背景,有效减少电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试,手动测样亦有清晰的导航测试功能。

完善、开放的样品特性参数数据库,具有常用样品折射率和吸收率参数

具备SOP标准操作流程,减少人为因素的影响,使分析测试流程标准化

SOP测量控制界面:

多种数据分析模型,满足不同特性样品的测试需要

体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换

多种方式的测量数据导出,方便数据交流

具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案,具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。

六、良好的测试性能

宽广的测量范围Topsizer的实测范围为0.02-um,从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测,能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。

宽分布样品

对大颗粒具有强大测试性能

毫米级玻璃微珠

对纳米、亚微米等超细颗粒具备良好识别能力

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良好的重复性Topsizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统,从而确保了激光角度校准的准确度,避免了光路的飘移,确保测试的重复性误差小于0.5%(标准粒子D50)。

良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。

杰出的分辨能力Topsizer能够准确测定样品中颗粒分布的微小变化,准确反映样品的实际粒度分布,能够满足技术研究和质量控制的需要。




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